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ARM选择XJTAG用于RealView开发工具调试与测试

 更新日期: 2007-9-11 10:03:49  作者:     来源: pcbtn


        XJTAG已宣布ARM选择XJTAG边界扫描开发系统来改进和加快ARM® RealView®开发硬件工具系列的调试与测试过程,该系列工具包括各种高密度、多层开发板。

 
        目前,ARM正在其最新一代RealView平台基板上使用XJTAG。RealView平台基板中含多种高引脚数球栅阵列(BGA)设备,包括处理器、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)和复杂可编程逻辑器件(CPLD)。

        ARM系统设计部平台工程经理Spencer Saunders说:"由于每块板上有数万个引脚,我们认识到,只有使用一台边界扫描测试系统才可能在有效的时间内验证这些电路。经过对不同竞争性选项的评估,我们选择了XJTAG边界扫描系统,因为这些系统具备较高的功率、性能、多功能性和成本效益。"

        XJTAG系统使ARM能够加快调试与测试进程、实现测试覆盖率突破90%大关、完成每块板十分钟的边界扫描生产测试目标,并大大提高产量。

 

来源 WWW.PCBTN.COM

 

 

 

 




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