当台湾面板厂为了第二条生产线而购买测试机台时，开始逐渐将注意力放在韩国品牌而非日本。几乎每一家LCD面板制造商以及特别是当时第一线的主要面板大厂（如南韩的LPL与日本的Sharp），都拥有一些PDI的测试设备。之后，PDI也陆续拓展业务至南韩三星与台湾的友达等面板厂。虽然Photon的竞争者非常积极，不过，因PDI的设备不仅已被广泛的采用、还具备因应大型玻璃基板尺寸的扩充能力、以及备受肯定的表现记录，如【图4】，因此预期PDI很有可能在未来几年仍继续称霸该类设备市场。

      
图3 1999~2006年全球数组检测设备营收市占率分析

      
图4 Photon Dynamics的数组检测设备发展上视图

         Agilent/MJC
     
        自2001年，非接触式取代FPC成为检测标准之后，Agilent/MJC（Micronics Japan）即失去很大的一部份市占率。Agilent/MJC几乎独占奇美内部的相关设备，并且因其擅长的应用端专技知识，快速反应与相对低成本的机台，所以未来仍有维持其独占地位的机会。Agilent/MJC在LTPS检测设备领域也相当擅长，部分市占率即来LTPS检测设备的贡献。未来该公司很可能将持续投注相当大的心力在LTPS领域上，一方面因为该公司也提供TEG（Test Element Group）检测能力，另一方面则是LTPS在目前具有较广泛的顾客基础。
      
         Shimadzu

         虽然努力维系与Sharp的业务并积极争取如QDI和SVA-NEC的设备订单，岛津制造所（Shimadzu）在目前仍非一线的设备业者，未来可能很难扩张其事业版图。
      
         AKT
     
         从Etec system集团获得EBT（Electron beam test）技术促使AKT有显著进步，如【表1】。AKT的市占率从2000年的零成长至2005的18%。目前AKT的机器设备已量产并获得三星、友达和IPS-Alpha等公司的采用。未来AKT也倾向提高在LTPS检测方面的业务。
      

表1 AKT EBT 基本规格

          五、结论析
    
         数组检测目前有三种不同的技术在竞争。从历史的角度来说，日本的LCD制造商，除Sharp外，其余都是使用Charge Sensing。韩国面板厂因察觉到非接触式的好处，所以已提早使用Voltage Sensing的测试方式。而许多台湾的面板制造商，由于早期的技术系来自日本的合作伙伴，因此这些日本合作伙伴推荐和他们使用相同的工具。一直到四代厂，Charge Sensing已经被广泛的使用在台湾的面板厂。

         每一种测试技术都有它的优点和缺点，当购买测试设备时，面板制造商必须权衡每一种技术的优点和缺点，进而找出赞成和反对的理由。过去，因为Shorting Bar Probe和 FPC有不同的Array设计需求，所以面板制造商将仅能在Voltage Sensing和Charge Sensing之间做选择。也因此导致一旦决定了测试平台后，要改变测试供货商变成是一件很困难的事。现在已有复合式的测试系统诞生，一些面板制造商甚至在相同的在线，使用混合的测试设备。这允许面板制造商去分散转换到一个新的技术所带来的风险，而且也允许每一个测试系统被应用于它所擅长之处。
     
         在未来的发展趋势中，大型基板、零缺陷的显示器(Zero Defect Display)和LTPS TFT LCD等议题，将成为影响Array设备市场的重要指标。